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日立球差校正掃描透射電子顯微鏡 HD-2700
- 品牌:日立
- 型號: HD-2700
- 產地:日本
1.整體的解決方案 樣品桿與日立FIB兼容,提供了納米尺度的整體解決方案,從制樣到數據獲得和zui終分析。 2.多種評價和分析功能可選 可同時獲得和顯示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像;可以配備ELV-2000型實時元素Mapping系統(DF-STEM像可以同時獲得);可以同時觀察DF-STEM像和衍射像;可以配備超微柱頭樣品桿進行三維分析(360度旋轉)等。
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Talos 透射電鏡
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Talos
- 產地:美國
Talos F200X S / TEM可在多個維度上提供zui快,zui精確的納米材料定量表征。 Talos F200X S / TEM具有旨在提高產量,精度和易用性的創新功能,是學術,政府和工業研究環境中高級研究和分析的理想選擇。
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LVEM5臺式透射電子顯微鏡
- 品牌:捷克Delong Instruments
- 型號: LVEM5
- 產地:美國
? 透射電鏡(TEM)、電子衍射(ED)、掃描電鏡(SEM)、掃描透射電鏡(STEM)四種成像模式 ? 分辨率:2nm(TEM);3nm(SEM) ? Schottky場發射電子槍:高亮度、高對比度 ? 觀察生物樣品無需染色 ? 體積僅為傳統透射電鏡1/10,價格僅為其1/5
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JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡
- 品牌:日本電子
- 型號: JEM-F200
- 產地:日本
以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設計精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
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日立L型 FIB-SEM-Ar 三束系統 NX9000
- 品牌:日立
- 型號: NX9000
- 產地:日本
-高亮度場發射電子槍冷 冷場發射電子槍先天具有的高亮度和高能量分辨率的特點,使納米量分析研究成為可能,對超高分辨圖像和電子全息攝影具有大貢獻。 -300kV高壓系統 300kV高壓系統具有更高的穿透能力,保證了厚樣品的原子分辨率圖像,降低了樣品制備難度,尤其對于金屬、陶瓷等高原子序數樣品的觀測十分有利。 -特的分析能力 新引入了雙重雙棱鏡全息攝影功能、高空間分辨率電子能量損失譜(EELS)和高精度平行納米束衍射技術等特的分析技術。
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日立透射電鏡 HT7820
- 品牌:日立
- 型號: HT7820
- 產地:日本
日立zuixin推出120kV透射電鏡HT782機型,該機型繼承了標準版HT7800高速CMOS熒光屏相機設計、全數字化、大集成等優點和創新點,仍然采用第二代雙隙物鏡的設計,設計使用高分辨物鏡,標配LaB6燈絲,性能實現突破性提升。此機型分辨率可保證0.144nm(晶格像),廣泛應用于生命科學、醫學、納米材料和軟材料研究領域。主要特點廣泛應用與納米材料和軟材料研究領域。1) 包括高分子聚合物在內的系列軟材料,樣品組成元素多為輕元素,高的加速電壓下很難得到高襯度圖像,在低的加速電壓(120kV
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日立球差校正掃描透射電子顯微鏡 HD-2700
- 品牌:日立
- 型號: HD-2700
- 產地:日本
1.整體的解決方案 樣品桿與日立FIB兼容,提供了納米尺度的整體解決方案,從制樣到數據獲得和zui終分析。 2.多種評價和分析功能可選 可同時獲得和顯示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像;可以配備ELV-2000型實時元素Mapping系統(DF-STEM像可以同時獲得);可以同時觀察DF-STEM像和衍射像;可以配備超微柱頭樣品桿進行三維分析(360度旋轉)等。
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日立球差校正透射電子顯微鏡 HF5000
- 品牌:日立
- 型號: HF5000
- 產地:日本
HF5000作為一款球差校正冷場發射透射電鏡,其分辨率達到了亞埃,可以實現對樣品的超細微觀結構的觀察和分析,適用于金屬、陶瓷、半導體、納米材料等的觀察。同時,HF5000特的TEM、STEM、SEM三位一體功能不僅可以實現對材料內部結構的研究,也可以獲得材料表面的信息。原子分辨率的二次電子探測器可以彌補TEM和STEM無法觀察樣品表面的缺陷,同時相比普通的SEM又具有更高的分辨率,可以滿足樣品表面高分辨形貌和結構觀察的需求,與TEM和STEM形成互補。全自動化的球差校正過程又大大簡化了球差校正透射電鏡的使用難度,提高了觀察效率,尤其適合測試平臺和科研ZX等用戶。
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日立新型高分辨率透射電鏡 HT7830
- 品牌:日立
- 型號: HT7830
- 產地:日本
HT7800具有優異的操作性與多樣的自動功能,通過將CCD相機與顯微鏡主機的操作相統一,可以在顯示器畫面上輕松、簡便地進行操作,高刷新率的CMOS熒光相機可以實現在明亮環境下操作,特的雙隙物鏡可以實現高分辨率和高反差觀察的一鍵切換,滿足不同領域的需求。
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日立新一代全數字化透射電子顯微鏡 HT7800
- 品牌:日立
- 型號: HT7800
- 產地:日本
HT7800具有優異的操作性與多樣的自動功能,通過將CCD相機與顯微鏡主機的操作相統一,可以在顯示器畫面上輕松、簡便地進行操作,高刷新率的CMOS熒光相機可以實現在明亮環境下操作,特的雙隙物鏡可以實現高分辨率和高反差觀察的一鍵切換,滿足不同領域的需求。
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日本日立 HD-2700球差校正掃描透射電子顯微鏡
- 品牌:日立
- 型號: HD-2700
- 產地:日本
專用掃描透射顯微鏡HD-2700,配備了與德國CEOS GmbH公司(總經理Max Haider先生)共同開發的球差校正儀,顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能,更適合高納米技術研究。由于球差校正系統校正了限制電子顯微鏡的性能的球差,使其與標準型號顯微鏡相比,分辨率提高了1.5倍,同時,探針電流提高了10倍。
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日本日立 200kV球差校正透射電鏡HF5000
- 品牌:日立
- 型號: HF5000
- 產地:日本
日立發布的200kV球差校正透射電鏡HF5000,具有高穩定冷場發射電子槍,自動球差校正器,可一鍵操作實現自動球差校正,HAADF-STEM分辨率可以達到0.78埃;
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日立新型雙束系統 NX2000
- 品牌:日立
- 型號: NX2000
- 產地:日本
1.高分辨成像,高襯度成像分辨率:二次電子(3.5nm@1kV),二次離子(4nm@30kV); 2.可實時觀察加工過程; 3.全自動TEM樣品制備。
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LVEM5臺式透射電子顯微鏡
- 品牌:捷克Delong Instruments
- 型號: LVEM5
- 產地:美國
? 透射電鏡(TEM)、電子衍射(ED)、掃描電鏡(SEM)、掃描透射電鏡(STEM)四種成像模式 ? 分辨率:2nm(TEM);3nm(SEM) ? Schottky場發射電子槍:高亮度、高對比度 ? 觀察生物樣品無需染色 ? 體積僅為傳統透射電鏡1/10,價格僅為其1/5
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低電壓臺式透射電子顯微鏡系統
- 品牌:捷克Delong Instruments
- 型號: LVEM5/LVEM25
- 產地:美國
臺式透射電子顯微鏡系統,支持多種成像模式 無需專門隔震防磁使用環境,操作維護簡單 觀察生物樣品無需染色,簡易快速地獲得觀察結果。
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場發射透射電子顯微鏡
- 品牌:合肥國儀量子
- 型號: TH-F120
- 產地:廣州
01 人機分離 電鏡空間與工作空間分離,減少人為干擾,提升安全性,帶來舒適的使用體驗 02 高效操作 各模塊控制高度集成至PC端,全中文軟件交互界面一目了然,提升操作效率 03 越級體驗 將場發射電子槍、高自動化系統等配置120 kV平臺,入門即高配 04 豐富拓展 預設充足的附件加裝接口以及整機升級空間,滿足用戶使用新需求,有效應對多樣的應用場景
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DENS Wildfire 原位加熱樣品桿
- 品牌:荷蘭DENS solutions
- 型號: Wildfire
- 產地:荷蘭
Wildfire是一種擁有革命性的納米芯片的原位解決方案,能夠在最高溫度下對材料進行直接原位TEM和EDS研究?;趦灮疢EMS的芯片,提供了最穩定和最寬的溫度范圍,而不會影響電鏡的性能。 通過研究FIB薄片、薄膜或顆粒樣品的多功能窗口設計,可以獲得一系列激動人心的應用。
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Talos 透射電鏡
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Talos
- 產地:美國
Talos F200X S / TEM可在多個維度上提供zui快,zui精確的納米材料定量表征。 Talos F200X S / TEM具有旨在提高產量,精度和易用性的創新功能,是學術,政府和工業研究環境中高級研究和分析的理想選擇。
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賽默飛(原FEI)Talos L120C TEM透射電子顯微鏡
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Talos L120C
- 產地:美國
The Talos L120C TEM 的平臺式設計具備了模塊多功能化,ZG的穩定性及操作的便捷性,從而提供可靠的ZJ成像性能。
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JEOL原子級分辨率透射電子顯微鏡JEM-ARM200F NEOARM
- 品牌:日本電子
- 型號: JEM-ARM200F NEOARM
- 產地:日本
JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡, 標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍(Cold-FEG)和全新的高階球差校正器(ASCOR)。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下,均能實現原子級分辨率的觀察與分析。同時還配備了自動像差校正系統,可以自動進行快速準確的像差校正。新STEM成像技術(e-ABF法)可以更加簡便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰(襯度)圖像。
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賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Talos F200C TEM
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Talos F200C TEM
- 產地:美國
用于光束敏感材料的高對比度成像的TEM和STEM分析。
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賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Talos F200X G2 TEM
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Talos F200X G2 TEM
- 產地:美國
適用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及準確化學定量的 TEM 顯微鏡。
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賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Talos F200S G2 TEM
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Talos F200S G2 TEM
- 產地:美國
TEM顯微鏡用于高生產率、高分辨率的TEM和具有化學定量的STEM表征。
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賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Talos F200i TEM
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Talos F200i TEM
- 產地:美國
用于高通量、高分辨率化學表征和動態觀察的 TEM 和 STEM 分析。
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賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Metrios AX TEM
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Metrios AX TEM
- 產地:美國
用于半導體計量和工藝表征的高生產率透射電子顯微鏡。
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賽默飛世爾 TEM透射電鏡 透射電子顯微鏡Glacios 2低溫TEM
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Glacios 2
- 產地:美國
Thermo Scientific Glacios 2低溫透射電子顯微鏡(Cryo-TEM)是一種200千伏顯微鏡,可以方便地從各種生物目標收集近原子數據。與上一代相比,Glacios 2 Cryo-TEM提供了更高的吞吐量,并使低溫EM更易于訪問。它具有一個集成的Thermo Scientific Falcon 4i直接電子探測器、Thermo Scintific EPU軟件和一個新的全外殼,這些結合在一起可以提高圖像質量、自動化數據采集并簡化您的工作。Glacios 2 Cryo-TEM非常適合單粒子分析、冷凍電子斷層掃描(Cryo-ET)和微電子衍射(MicroED)應用。
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賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Spectra 200 TEM
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Spectra 200 TEM
- 產地:美國
適用于所有材料科學應用的高通量TEM和STEM顯微鏡。
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賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Spectra 300 TEM
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Spectra 300 TEM
- 產地:美國
適用于所有材料科學和半導體應用的高分辨率TEM和STEM顯微鏡。
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賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Spectra Ultra S/TEM
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Spectra Ultra S/TE
- 產地:美國
用于對電子束敏感材料進行成像和光譜分析的掃描透射電子顯微鏡。
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賽默飛世爾100 kV冷凍透射電鏡 Tundra Cryo-TEM
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Tundra Cryo-TEM
- 產地:美國
產品介紹:為您帶來冷凍電子顯微鏡無論您是一名經驗豐富的顯微鏡學家,還是剛剛起步,Thermo Scientific Tundra低溫透射電子顯微鏡(Cryo-TEM)都是一種專門的結構分析解決方案,旨在以可承受的價格將低溫電子顯微鏡(Cryo-EM)帶到您的實驗室。簡化的數據收集和快速的樣品加載/卸載使Tundra Cryo-TEM成為回答您最 具挑戰性的研究問題的強大工具。使用Tundra Cryo-TEM,您可以在內部以生物相關的分辨率獲得結構,或者可靠地制備高質量的樣品,以便在Thermo Sc
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賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Krios G4 Cryo-TEM
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Krios G4 Cryo-TEM
- 產地:美國
采用提高生產力和緊湊設計的原子分辨率冷凍電鏡儀器。
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Delong Instruments LVEM5 透射電子顯微鏡 TEM
- 品牌:捷克Delong Instruments
- 型號: LVEM5
- 產地:其它
? 小型臺式透射電子顯微鏡(TEM) ? 多用途臺式電子顯微鏡 ? 透射電鏡(TEM)、電子衍射(ED)、掃描電鏡(SEM)、掃描透射電鏡(STEM)四種成像模式 ? 分辨率:1.5nm(TEM);10nm(SEM) ? Schottky場發射電子槍:高亮度、高對比度 ? 觀察生物樣品無需染色 ? 體積僅為傳統透射電鏡1/10,操作維護簡單
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賽默飛(原FEI)Talos F200C TEM透射電子顯微鏡
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Talos F200C
- 產地:美國
支持范圍廣泛的用戶: 憑借完全數字化的界面、領先的人體工程學設計以及遙控特征,Talos F200C TEM 使較廣范圍的用戶都能夠擁有功能強大的生物及生物材料樣品三維表征能力。
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自動進樣場發射透射電鏡
- 品牌:日本電子
- 型號: JEM-F200
- 產地:日本
2016年新年伊始,日本電子株式會社(JEOL)即全球同步推出了新款場發射透射電鏡JEM-F200。
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JEOL JEM-2800 高通量場發射透射電子顯微鏡
- 品牌:日本電子
- 型號: JEM-2800
- 產地:日本
JEM-2800是日本電子透射電子顯微鏡系列中的一款特殊設計的產品,在兼顧高分辨高穩定性的同時,最求分析效率的最大化和操作的自動化。顛覆傳統的電鏡外觀設計,除了讓人耳目一新外,還對設置環境更具抗干擾能力。 主要技術指標: 1. 點分辨率:0.21nm; 2. 晶格分辨率:0.1nm; 3. STEM 分辨率:0.16nm; 4. 二次電子分辨率:0.5nm; 5.&nbs
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賽默飛(原FEI)ELITE 系統
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: ELITE
- 產地:美國
ELITE 是DY款可為二維和三維器件提供動態無損實時 LIT 的完全集成系統。作為市場領導者,ELITE 系統的設計采用專有的高靈敏度 InSb 攝像頭、定制光學器件和高級算法,具有出眾的性能,并可以在最短時間內獲得結果,通過為失效分析工程師提供根本原因分析所需的關鍵信息,有效縮短分析學習的周期。
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[公開招標]預算3497萬元 河南大學采購活細胞激光共聚焦顯微鏡
河南大學公開招標200KV超高分辨場發射透射電鏡,活細胞激光共聚焦顯微鏡,多色流式細胞儀,高維多參數光譜流式細胞儀,項目編號:豫財招標采購-2024-313
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