-
電子光學儀器電子光學儀器由電子光學系統和其他機電系統構成的,應用電子光學原理達到觀察、分析等目的的儀器。是一種直接觀察研究物質微觀形貌,成份和結構與其宏觀性能(功能)之間關系的一類大型精密儀器。在材料科學、納米科學技術、生命科學技術、物理、化學、醫學、微電子學、半導體大規模集成電路制造等科技領域以及臨床診斷、刑事偵破、考古和工農業生產中得到了廣泛的應用。
-
電子光學儀器推薦產品
- 納克微束高分辨場發射掃描電鏡 FE-1050系列 電子背散射衍射系統EBSD
- 納克微束高分辨場發射掃描電鏡 FE-1050系列 電鏡附件
- 賽默飛(原FEI)Apreo場發射掃描電子顯微鏡 掃描電鏡/掃描電子顯微鏡
- 德國布魯克 電子顯微鏡分析儀 QUANTAX ED-XS 電子背散射衍射系統EBSD
- Talos 透射電鏡 透射電鏡/透射電子顯微鏡
- 納克微束高分辨場發射掃描電鏡 FE-1050系列 掃描電鏡/掃描電子顯微鏡
- 日本日立 高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡SU9000 掃描電鏡/掃描電子顯微鏡
- JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡 透射電鏡/透射電子顯微鏡
- 國儀量子場發射掃描檔電鏡SEM5000 掃描電鏡/掃描電子顯微鏡
- 德國布魯克 第八代多功能掃描探針顯微鏡Bruker 掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡/掃描隧道顯微鏡/磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡
- 日立多功能智能型 5100N 原子力顯微鏡 掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡/掃描隧道顯微鏡/磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡
- Park NX10 帕克原子力顯微鏡 掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡/掃描隧道顯微鏡/磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡
-
電子背散射衍射系統EBSD 查看更多>>
-
- 最新產品
- 最新產品資料
- 納克微束高分辨場發射掃描電鏡 FE-1050系列
- 德國布魯克 電子顯微鏡分析儀 QUANTAX ED-XS
- 美國SCS250果蔬氣體分析儀
- 美國SCS采后監測系統
- 美國SCS6750果蔬氣體分析儀
- 美國SCS PSA-3500氮氣發生器
- 美國SCS Solo系列二氧化碳洗滌器
- 美國SCS EIII系列二氧化碳洗滌器
- 美國SCS labpod DRY氣調試驗系統
- 美國SCS CURPOD SPACE SAVR大型超低氧氣調保鮮箱
- JF-3012 全自動煙塵煙氣測試儀
- Verios XHR SEM
- 布魯克電子背散射衍射儀EBSD CrystAlign
- Thermo Scientific Quasor 電子背散射衍射
- EDAX OIM?
- EDAX TEAM? EBSD
-
導購文章
-
掃描電鏡/掃描電子顯微鏡 查看更多>>
-
- 最新產品
- 最新產品資料
- 國儀量子 SEM5000 PRO 熱場發射掃描電子顯微鏡 SEM
- 澤攸科技 ZEM18 臺式掃描電子顯微鏡
- 澤攸科技 ZEM20 臺式掃描電子顯微鏡 SEM
- Thermo Scientific? Quattro 具有環境真空功能的高分辨率掃描電鏡
- Thermo Scientific? Apreo 掃描電鏡
- EM科特 CUBE-Ⅱ臺式桌面掃描電鏡
- EM科特 CUBE-1000/1100臺式桌面掃描電鏡
- EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列
- 日立 掃描電子顯微鏡 SU5000
- LDSS-60系列掃描電子顯微鏡
- LDSS150系列掃描電子顯微鏡
- HITACHI日立 掃描電子顯微鏡 SU3800/SU3900
- HITACHI日立 場發射掃描電子顯微鏡SU8600
- TESCAN RISE電鏡拉曼一體化顯微鏡
- DUALBEAM FIB-SEM 顯微鏡 ExSolve Wafer TEM Prep DualB
- 賽默飛世爾 基于Vitrobot系統的冷凍電鏡樣品制備
- 賽默飛 Axia ChemiSEM 掃描電子顯微鏡
- 蔡司 Crossbeam 系列 雙束電子顯微鏡
- TESCAN MAGNA 新一代超高分辨場發射掃描電鏡
- 日立 FlexSEM1000II 掃描電子顯微鏡
- 飛納電鏡 Phenom GSR 臺式掃描電子顯微鏡
- 飛納電鏡 Phenom Pure 臺式掃描電子顯微鏡
- 賽默飛 Talos F200X S/TEM 透射電子顯微鏡
- 布魯克 Micro-CT for SEM
- 飛納電鏡 Phenom ProX 臺式掃描電子顯微鏡
- 日本電子 JSM-6390 系列掃描電子顯微鏡 SEM
- 賽可 SNE-4500M / SNE-3200M / SNE-3000MS 臺式掃描電子顯微鏡 SEM
- Falcon-4-Detector-datasheet
- scios-2-datasheet-materials-science
- Helios-Hydra-CX-datasheet
- Helios-Hydra-UX-datasheet
- helios-5-exl-dualbeam-datasheet-ds0365
- 導購文章
-
透射電鏡/透射電子顯微鏡 查看更多>>
-
- 最新產品
- 最新產品資料
- 自動進樣場發射透射電鏡
- JEOL JEM-2800 高通量場發射透射電子顯微鏡
- 場發射透射電子顯微鏡
- 賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Talos F200C TEM
- 賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Talos F200X G2 TEM
- 賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Talos F200S G2 TEM
- 賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Talos F200i TEM
- 賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Metrios AX TEM
- 賽默飛世爾 TEM透射電鏡 透射電子顯微鏡Glacios 2低溫TEM
- 賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Spectra 200 TEM
- 賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Spectra 300 TEM
- 賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Spectra Ultra S/TEM
- 賽默飛世爾100 kV冷凍透射電鏡 Tundra Cryo-TEM
- 賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Krios G4 Cryo-TEM
- Hitachi HT7800 透射電子顯微鏡 TEM
- Hitachi HF5000 球差場發射透射電子顯微鏡TEM
- Krios-G4-Cryo-TEM-datasheet
- Talos-F200C-Datasheet
- Talos-F200X-Datasheet-Materials-Science
- Talos-F200S-Datasheet
- talos-f200i-datasheet-materials-science
- talos-l120c-datasheet
- glacios-2-cryo-tem-br0158
- Spectra-300-datasheet-materials-science
- spectra-ultra-ds0361-materials-science-datasheet
- tundra-cryo-tem-datasheet-ds0359
- Krios-RX-Cryo-TEM-Datasheet
- 賽默飛電子顯微鏡產品目錄
- 透射電鏡制樣如何選擇適合銅網
- 【Hitachi】日立透射電鏡HT7700產品樣冊
- SERVOPRO Plasma (k2001)
- 美國HysitronPI95透射電鏡專用微納力學測試系統具體應用之——納米晶薄膜
- 導購文章
-
掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡/掃描隧道顯微鏡/磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡 查看更多>>
-
- 最新產品
- 最新產品資料
- Accurion RSE 快速晶圓檢測
- Park NX-IR 納米紅外光譜系統
- Park NX-Mask 基于AFM的 EUV光罩修復及其他性能
- Park NX-3DM工業原子力顯微鏡
- Park NX-Wafer 業界引領的用于產線計量方案的自動化AFM
- 專為大型納米平板顯示器測量而設計的自動化原子力顯微鏡(AFM)系統
- Park NX-Hivac 高真空原子力顯微鏡 為故障分析 和敏感材料研究提供專業的解決方案
- Park NX15 功能強大的原子力顯微鏡提高您的生產力
- Park NX20 失效分析的理想選擇
- Park NX20 300mm 用于300毫米晶圓測量和分析的自動化納米計量工具
- Park NX12 用于分析化學的通用型原子力顯微鏡
- Park NX7 創新NX組件加持-新手AFM研究的理想選擇
- Park NX10 納米科技研究的理想選擇
- Park FX40?新型全自動原子力顯微鏡
- SPM-9700HT 原子力顯微鏡
- SPM-8100FM 高分辨原子力顯微鏡
- 島津 SPM-9700 掃描探針電子顯微鏡
- 島津 EPMA-8050G 場發射電子探針顯微分析儀
- 布魯克 BioScope Resolve 生物原子力顯微鏡
- 布魯克 Dimension FastScan 原子力顯微鏡
- 布魯克 Innova 掃描探針顯微鏡
- 布魯克 NanoWizard? 4 XP 納米科學原子力顯微鏡
- 布魯克 ULTRA Speed 2 超快速原子力顯微鏡
- 布魯克 NanoWizard V 生物型原子力顯微鏡
- 布魯克 NanoWizard 4 XP 原子力顯微鏡
- 布魯克 NanoRacer 原子力顯微鏡 高速AFM
- 島津 SPM-9700 型原子力顯微鏡
- 島津 SPM-8100FM 高分辨原子力顯微鏡
- 島津 SPM-Nanoa 掃描探針顯微鏡
- 布魯克 Dimension Icon 原子力顯微鏡
- 島津SPM-8100FM高分辨原子力顯微鏡
- 布魯克 MultiMode 8 掃描探針顯微鏡
- 導購文章
-
掃描透射電鏡/掃描透射電子顯微鏡 查看更多>>
-
- 最新產品
- 最新產品資料
- 賽默飛世爾 DUALBEAM 顯微鏡 Helios 5 Hydra DualBeam
- 賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Talos F200i TEM
- 賽默飛世爾 掃描電子顯微鏡 Phenom particleX Steel Desktop SEM
- 賽默飛世爾 掃描電子顯微鏡 Phenom 分區 TC 臺式掃描電鏡
- 賽默飛世爾 掃描電子顯微鏡 Phenom ParticleX AM Desktop SEM
- 賽默飛世爾 掃描電子顯微鏡 Phenom Perception GSR Desktop SEM
- 賽默飛世爾 掃描電子顯微鏡 Phenom Pure G6 Desktop SEM
- 賽默飛世爾 掃描電子顯微鏡 Phenom Pro Desktop SEM
- 賽默飛世爾 掃描電子顯微鏡 Phenom ProX Desktop SEM
- 賽默飛世爾 掃描電子顯微鏡 Phenom XL G2 Desktop SEM
- 賽默飛世爾 掃描電子顯微鏡 Phenom Pharos G2
- 賽默飛世爾 Volumescope 2 SEM掃描電鏡
- 賽默飛世爾 Apreo 2 SEM場發射掃描電鏡
- 賽默飛世爾 Prisma E環境掃描電鏡
- 賽默飛世爾 Quattro ESEM環境掃描電鏡
- 賽默飛世爾 Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡
- metrios-ax-datasheet-DS0316
- spectra-200-datasheet-materials-science
- desktop-sem-particlex-steel-datasheet-ds0344
- desktop-sem-datasheet-particle-x-tc-DS0293
- desktop-sem-datasheet-particle-x-am-DS0294
- desktop-sem-datasheet-perception-gsr-DS0306
- desktop-sem-datasheet-pure-DS0311
- desktop-sem-datasheet-pro-DS0310
- desktop-sem-datasheet-prox-DS0300
- phenom-xl-g2-datasheet
- desktop-sem-datasheet-pharos-DS0287
- volumescope-2-lifesciences-datasheet-DS0304
- Apreo-SEM-Datasheet
- Prisma-E-SEM-Datasheet
- Quattro-datasheet
- verios5-datasheet
-
導購文章
-
其它電子光學儀器 查看更多>>
-
- 最新產品
- 最新產品資料
- ICAT-MC系列32/48/64/80/96/112/128 通道LED顏色亮度測試儀/模組
- DDR5轉接卡DDR5內存轉接卡DDR5內存測試1.5V筆記本
- ICATIP 高精度LED工業挑選器 CIE1931 XYZ顏色模組 LED測試儀
- ICAT ICT系列高精度LED測試儀 USB接口 弱光強光波長測試LED測試
- ICAT智能條碼掃描器一維二維碼嵌入式流水線高速激光紅光掃描模組
- 可聯網智能計數器/USB-RS232-I2C接口計數器/ICT,FCT系統智能化
- ICATPro高精度高量程LED分析儀/汽車大燈測試/氛圍燈檢測
- 光學導光探頭1.3mm(ICAT LED測試儀導光探頭)
- LED測試儀 LED分析儀 ICAT FT系列 2/3/4/6/8/12/16通道LED測試
- ADLEMA檢漏機BT4000
- 基本型電解雙噴減薄儀
- 金屬圓片沖孔儀
- 電解雙噴減薄儀
- 氟化鈣CaF2中紅外透鏡 250nm-7um 直徑50mm 焦距80mm IR 平凸
- 氟化鈣CaF2中紅外透鏡 250nm-7um 直徑40mm 焦距120mm UV 平凸
- 氟化鈣CaF2中紅外透鏡 250nm-7um 直徑38.1mm 焦距75mm IR 平凸
-
導購文章
-
電鏡附件 查看更多>>
-
- 最新產品
- 最新產品資料
- Accurion Nano 系列 主動隔振臺
- Accurion i4 系列 主動隔振臺
- 納克微束高分辨場發射掃描電鏡 FE-1050系列
- 納克微束 離子濺射儀ISC-1000
- 瑞士Safematic電鏡制樣設備CCU-010 LV_SP-010磁控離子濺射鍍膜儀
- 瑞士Safematic電鏡制樣設備CCU-010 LV_CT-010熱蒸發鍍碳儀
- 瑞士Safematic電鏡制樣設備CCU-010 LV離子濺射和鍍碳一體化鍍膜儀
- 瑞士Safematic電鏡制樣設備CCU-010 HV_SP-010高真空離子濺射鍍膜儀
- 瑞士Safematic電鏡制樣設備CCU-010 HV_CT-010高真空熱蒸發鍍碳儀
- 瑞士Safematic電鏡制樣設備CCU-010 HV高真空離子濺射/鍍碳一體化鍍膜儀
- 加拿大Dragonfly三維圖像分析軟件_可選AI深度學習解決方案
- Gatan PECS 682 精密刻蝕鍍膜系統
- Gatan PECS II 685 精密刻蝕鍍膜儀
- Hitachi ZoneSEM II 掃描電子顯微鏡樣品清洗儀
- Hitachi ZoneTEM II 透射電子顯微鏡樣品清洗儀
- Hitachi Evactron E50 等離子清洗設備
- 武器裝備使用進口電子元器件管理辦法實施細則
- EM TP自動化組織處理機_樣本
- Leica EM CPD300自動臨界點干燥儀_樣本
- EM GP2自動投入冷凍儀_樣本
- 徠卡電鏡制樣產品資料_Leica EM VCT500真空冷凍傳輸系統_樣本、參數、價格、應用案例、配置對比等
- 徠卡電鏡制樣產品資料_Leica EM CPD300全自動臨界點干燥儀_樣本、參數、價格、應用案例、配置對比等
- 徠卡電鏡制樣產品資料合集_含超薄切片機、樣品傳輸、離子研磨儀、零界點干燥儀、鍍膜儀等
- 徠卡電鏡制樣產品資料合集_含超薄切片機、樣品傳輸、離子研磨儀、零界點干燥儀、鍍膜儀等
- 徠卡電鏡制樣產品資料合集_含超薄切片機、樣品傳輸、離子研磨儀、零界點干燥儀、鍍膜儀等
- 德國徠卡 用于可追溯顯微鏡檢查的智能設備Exalta產品樣本
- 德國徠卡 臨界點干燥儀 EM CPD300產品樣本
- 德國徠卡 常規熒光倒置顯微鏡 DMIL LED產品樣本
- 德國徠卡 真空冷凍傳輸系統 EM VCT500產品單頁
- 德國徠卡 真空冷凍傳輸系統 EM VCT500產品樣本
- SU3800鎢燈絲掃描電鏡的優勢在哪里?
- 徠卡 低真空鍍膜儀 LNT EM ACE200_600產品樣冊
-
導購文章
- 電子光學儀器相關文章
- 電子光學儀器優秀供應商