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日立臺式電鏡 TM4000/TM4000PlusⅡ
品牌:日立
型號:TM4000/TM4000PlusⅡ
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納克微束高分辨場發射掃描電鏡 FE-1050系列
品牌:納克微束
型號:FE-1050系列
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納克微束高分辨場發射掃描電鏡 FE-1050系列
- 品牌:納克微束
- 型號: FE-1050系列
- 產地:大興區
納克微束FE-1050系列高分辨(場發射)掃描電鏡,是國內首款低電壓高分辨力掃描電鏡,也是國內首款可搭載聚焦離子束(FIB)模塊的大型場發射電鏡平臺。其擁有卓越的成像性能,穩定可靠的運行記錄,以及智能的操作體驗。 FE-1050系列高分辨場發射掃描電鏡配備新一代電子光學鏡筒,具備優越電子光學性能。在保證高電壓分辨力的前提下,重點優化了低電壓下的分辨力,低壓分辨能力實現1.5nm@1kV,達到國際先進水平。更能展現樣品表面形貌信息的同時,使研究人員輕松應對各類樣品的成像測試需求。 FE-1050系列高分辨場發射掃描電鏡具備寬大的主真空腔室,尺寸達到320mm×340mm×300mm(L×W×H),最大可進入Φ300mm×50mm的大型樣品?;谶@一基礎,全新設計的系統平臺最大化考慮通用擴展性,可保證兼容任意第三方廠商探測器及附件系統,適用于多個應用領域。多達27個附件端口的數量,讓FE-1050系列掃描電鏡成為目前可擴展性最強的掃描電鏡之一。 FE-1050系列掃描電鏡具備自動化進取樣功能,配有多角度相機,能夠全方位監控腔室內的情況;擁有貼近用戶設計的系統交互軟件,最大程度簡化用戶操作,即使沒有電鏡使用經驗的用戶也可對其輕松上手;配備軟件算法,可智能化對圖像中的特征物進行識別統計。軟硬件結合的智能化操作流程充分考慮到研究人員的操作體驗感,真正將用戶從繁瑣的重復操作中解放出來。
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賽默飛(原FEI)Apreo場發射掃描電子顯微鏡
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Apreo
- 產地:美國
Apreo 復合透鏡結合了靜電和磁浸沒技術,可產生前所未有的高分辨率和材料對比度。
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國儀量子場發射掃描檔電鏡SEM5000
- 品牌:合肥國儀量子
- 型號: SEM5000
- 產地:合肥
SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發射掃描電子顯微鏡。 先進的鏡筒設計,高壓隧道技術(SuperTunnel)、低像差無漏磁物鏡設計,實現了低電壓高分辨率成像,同時磁性樣品可適用。光學導航、完善的自動功能、精心設計的人機交互,優化的操作和使用流程,無論經驗是否豐富,都可以快速上手,完成高分辨率拍攝任務。
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日本日立 高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡SU9000
- 品牌:日立
- 型號: SU9000
- 產地:日本
日立高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡SU9000是專門為電子束敏感樣品和需ZD300萬倍穩定觀察的先進半導體器件,高分辨成像所設計。
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JSM-7900F 熱場發射掃描電子顯微鏡
- 品牌:日本電子
- 型號: JSM-7900F
- 產地:日本
JEOL新一代場發射掃描電子顯微鏡的旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評的性能如極高的空間分辨率、高穩定性、多種功能等的同時,操作性能極大簡單化。該設備不依賴操作者的技能,始終能夠發揮其**性能。
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高通量(場發射)掃描電鏡Navigator-100
- 品牌:北京聚束科技
- 型號: Navigator-100-SEMI
- 產地:大興區
Navigator-100高通量場發射掃描電子顯微鏡,專為跨尺度大規模樣品SEM表征分析而設計,廣泛應用于科研及工業等領域。其自動化超高速的納米成像技術,為您提供超凡的成像體驗。
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JCM-7000 NeoScope? 臺式掃描電子顯微鏡
- 品牌:日本電子
- 型號: JCM-7000 NeoScope?
- 產地:日本
JCM-7000是日本電子新推出的一款臺式掃描電子顯微鏡。其不僅繼承了日本電子大型電鏡強大的功能,相對于大型掃描電鏡,其自動化程度高,操作簡單便捷,維護保養容易,體積小巧,價格低廉,檢測速度快,從啟動裝填樣品到測試出結果僅需5分鐘左右。JCM-7000還創新的加入了實時能譜分析和實時3D顯示的功能,更高xiao便捷的服務于您的研究和工作。
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KYKY-EM8100場發射槍掃描電子顯微鏡
- 品牌:北京中科科儀
- 型號: KYKY-EM8100
- 產地:海淀區
1. Schottky肖特基場發射電子槍亮度高、單色性好、電子束斑小,壽命長 2. 采用電子束加速鏡筒,確保低壓下卓越的成像性能 3. 束流穩定度高、色散小,適宜于長時間的各種精確分析,如CL、EDS、EBSD 4. 低加速電壓不導電樣品可以直接觀測,無需噴金 5. 操作簡便,僅用鼠標即可完成所有的電鏡操作 6. 超大樣品倉室,滿足不同客戶的觀測需求
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二手日立S-4300場發射電鏡 ,二手掃描電鏡SEM,冷場發射電鏡
- 品牌:日立
- 型號: S-4300
- 產地:日本
二手日立S-4300場發射電鏡設計具有以下特點: 1) 高亮度光源肖特基場發射掃描電子顯微鏡 2) 高探針電流 3) 長、短程電子束穩定 4) 高分辨率 S-4300SE可以與多種附件相結合,如陰J發光(CL),背反射電子衍射圖形(EBSP),X-射線能譜(EDX),電子描畫(EB)。
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飛納臺式場發射掃描電鏡 Phenom Pharos G2
- 品牌:荷蘭Phenom-World
- 型號: Phenom Pharos G2
- 產地:荷蘭
荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發射電子源臺式掃描電鏡 Phenom Pharos G2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發射電子源,使用戶可以輕松獲得高分辨率圖像,且低電壓性能優異。Phenom Pharos G2 低電壓成像優勢明顯,可減輕電子束對樣品的損傷和穿透,更好地觀測絕緣和電子束敏感的樣品,可以最大程度還原樣品真實形貌。 第二代臺式場發射電鏡的分辨率提升至優于 1.5nm,廣泛用于半導體、生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。
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飛納臺式掃描電鏡高分辨率專業版 Phenom Pro
- 品牌:荷蘭Phenom-World
- 型號: Phenom Pro
- 產地:荷蘭
飛納臺式掃描電鏡高分辨率專業版 Phenom Pro 是一款快捷,出眾,可靠的電鏡成像分析設備,擁有獨特的臺式掃描電子顯微鏡設計,創新型用戶使用界面,直觀的觸控設置,全自動操作。提供在諸多領域中要求的高分辨率以及高質量分析成像。高性價比、操作簡便、快速成像的飛納臺式掃描電鏡成為工程師,技術員,研究員以及科教專家觀測微米以及納米結構的首要選擇。
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飛納臺式掃描電鏡大樣品室zhuo越版 Phenom XL
- 品牌:荷蘭Phenom-World
- 型號: Phenom XL
- 產地:荷蘭
飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL 進一步拓展了緊湊型臺式電鏡的性能極限,同時具備飛納電鏡系列簡單易用、快速成像的兩大特點。此外,它配備了超大的樣品腔室,可以觀察分析zuida樣品尺寸為 100 mm x 100 mm 的樣品。全新開發的緊湊型馬達臺確保用戶可以觀察到整個樣品區域。
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日立臺式電鏡 TM4000/TM4000PlusⅡ
- 品牌:日立
- 型號: TM4000/TM4000PlusⅡ
- 產地:日本
TM4000PlusⅡ是在TM4000Ⅱ基礎上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD,該探頭在低真空環境下具有很好的成像質量。TM4000PlusⅡ可將二次電子圖像和背散射電子圖像疊加并實時進行顯示,獲得zui多的樣品信息。TM4000PlusⅡ可以選配Multi Zigzag功能,可實現大范圍自動連續拍照和自動拼圖功能。
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日立高分辨冷場發射掃描電鏡 SU9000
- 品牌:日立
- 型號: SU9000
- 產地:日本
SU9000是上高二次電子分辨率(0.4nm@30kV)和STEM分辨率(0.34nm@30kV)的掃描電鏡。它采取了特的真空系統和電子光學系統,不僅分辨率性能優異,而且作為冷場發射掃描電鏡甚至不需要傳統意義上的Flashing操作,可以快速穩定的進行超高分辨成像。?主要特點:1. 新型電子光學系統設計達到掃描電鏡Z高分辨率:二次電子0.4nm(30KV),STEM 0.34nm(30KV)。2. 用改良的高真空性能和無與倫比的電子束穩定性來實現高效率截面觀察。3. 采
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飛納臺式掃描電鏡能譜一體機 Phenom ProX
- 品牌:荷蘭Phenom-World
- 型號: Phenom ProX
- 產地:荷蘭
飛納臺式掃描電鏡能譜一體機 Phenom ProX —— 智能、GX、能譜電鏡一體化 放大倍數:350,000× 分辨率:優于 6nm@10kV 電子槍:1,500 小時 CeB6 燈絲 抽真空時間:小于 15 秒 加速電壓:5kV - 15 kV 連續可調 能譜儀EDS元素分析功能 拓展功能:3D粗糙度重建、纖維統計測量,高倍拼圖等
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日立Zxin熱場掃描電鏡 SU7000
- 品牌:日立
- 型號: SU7000
- 產地:日本
在相同WD的條件下,可同時實現二次電子、背散射電子觀察與X射線分析 zui多可同時實現6通道檢測與顯示 可配置18個附件接口
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日立新型冷場發射掃描電鏡 Regulus8200系列
- 品牌:日立
- 型號: Regulus8200系列
- 產地:日本
1.選配頂端過濾器,可實現良好的成分對比度; 2.優異的擴展功能,可附加多種功能附件。
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日本日立 高新熱場式場發射掃描電鏡SU5000
- 品牌:日立
- 型號: SU5000
- 產地:日本
日立高新技術公司(以下簡稱:日立高新)8月4日開始發售的肖特基式場發射 掃描電子顯微鏡"SU5000",搭載了全新的用戶界面和"EM Wizard",無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
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日本日立 大型掃描電鏡SU3900
- 品牌:日立
- 型號: SU3900
- 產地:日本
在以納米技術和生物技術為主的產業領域里,從物質的微細結構到組成成分,SEM在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應用。SEM用途日益擴大,但對于鋼鐵等工業材料和汽車零配件等超大/超重樣品,由于電鏡樣品臺能對應的樣品尺寸和重量受到限制,所以觀察時需要進行切割等加工。因此,對超大樣品不施以加工處理,便可直接觀察表面微細形貌和進行各種分析則成為重要的課題。
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日立全新大型鎢燈絲掃描電鏡 SU3900
- 品牌:日立
- 型號: SU3900
- 產地:日本
全自動燈絲設定和合軸; 報告導出和圖片處理; 可集成的EDS; 簡單方便的維護(燈絲更換視頻)。
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日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡 SU3800
- 品牌:日立
- 型號: SU3800
- 產地:日本
HexBias偏壓鎢燈絲電子槍; 優異的高、低電壓性能; 高靈敏度五分割背散射電子探測器; 可變壓力二次電子探測器(高、低真空可用)。
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日立高分辨冷場發射掃描電鏡 Regulus8100
- 品牌:日立
- 型號: Regulus8100
- 產地:日本
1. 配備加速電壓減速功能,的低加速電壓成像能力,1kV分辨率可達0.8nm 2. 日立ZLE×B技術,無需噴鍍,可直接觀測不導電樣品
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日立新型鎢燈絲掃描電鏡 FlexSEM1000 II
- 品牌:日立
- 型號: FlexSEM1000 II
- 產地:日本
體積小、操作簡單、性能強(4nm@20kV)、擴展功能豐富 擁有多個探測器(SE、BSE) 擁有低真空功能,不導電和含水樣品直接觀察
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【Hitachi】日立新型熱場發射掃描電鏡SU5000
- 品牌:日立
- 型號: SU5000
- 產地:日本
產品介紹: 日立全新一代熱場發射掃描電鏡SU5000繼承了日立半導體行業掃描電鏡CD-SEM高穩定性和易操作的特點,不僅具有強大的觀察分析能力,同時具有全新的操作體驗。SU5000既滿足了專業電鏡操作者對高分辨觀察和分析的需求,也滿足了電鏡初學者對高質量圖片的需求,是一臺操作簡便且功能強大的掃描電鏡。主要特點:? 高穩定性熱場發射電子槍? 全新的EM Wizard軟件,無需設置參數即可獲得高質量圖片? 高分辨率和強大的分析能力? 樣品適用性強:不導電樣品直接觀察(低真空功能,10-300Pa)? 全新的
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日本日立 高新掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000
- 品牌:日立
- 型號: FlexSEM 1000
- 產地:日本
日立高新技術公司于2016年4月15日在全球發布了新型掃描電子顯微鏡——FlexSEM 1000。該產品結構緊湊,占地面積小,但分辨率不輸大型電鏡,同時操作其簡便,幾乎不用培訓就可操作。緊湊型設計,分辨率為4 nm。
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日立中型掃描電鏡SU3800
- 品牌:日立
- 型號: SU3800
- 產地:日本
可搭載的最 大樣品尺寸:“SU3800” 標配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉,可應對最 大高度為80mm、重量為2kg的樣品。 “SU3900”作為日立高新技術的大型掃描電鏡,標配可搭載最 大直徑300mm樣品的樣品倉,可應對最 大高度為130mm、重量為5kg(比前代機型提高2.5倍*2)的樣品。
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日立冷場發射掃描電鏡SU8600
- 品牌:日立
- 型號: SU8600
- 產地:日本
FE-SEM獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對簡單,并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結構,因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生命科學、材料等領域。近年來,以Materials Integration為代表,其應用領域及用途在不斷擴展,短時間內獲取大量數據,減輕作業負荷成為市場的一大需求。為滿足這一需求,此次特推出的SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高質量圖像、大束流分析及長時間穩定運行的冷場成像技術,同時還大大提升了高通量、自動數據獲取能力。
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日立肖特基場發射掃描電鏡SU8700
- 品牌:日立
- 型號: SU8700
- 產地:日本
FE-SEM獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對簡單,并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結構,因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生命科學、材料等領域。近年來,以Materials Integration為代表,其應用領域及用途在不斷擴展,短時間內獲取大量數據,減輕作業負荷成為市場的一大需求。為滿足這一需求,此次特推出的SU8700作為一款面向新時代的SEM,在日立電鏡貫有的高圖像質量和高穩定性的基礎上,增加了包括自動獲取數據等高通量的功能。
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飛納 增材制造評估 ParticleX AM
- 品牌:荷蘭Phenom-World
- 型號: ParticleX AM
- 產地:荷蘭
飛納 Phenom ParticleX 增材制造金屬粉末全面評估系統 以臺式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎,可以全自動對顆?;螂s質進行快速識別、分析和分類統計,為客戶的研發以及生產提供快速、準確和可靠的定量數據支持。
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飛納 清潔度分析 ParticleX TC
- 品牌:荷蘭Phenom-World
- 型號: ParticleX TC
- 產地:荷蘭
飛納 Phenom ParticleX 全自動清潔度分析系統 以臺式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎,可以全自動對顆?;螂s質進行快速識別、分析和分類統計,為客戶的研發以及生產提供快速、準確和可靠的定量數據支持。
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日本電子JEOL場發射掃描電鏡JSM-IT800SHL
- 品牌:日本電子
- 型號: JSM-IT800SHL
- 產地:日本
JSM-IT800SHL場發射掃描電鏡 JSM-IT800SHL 是日本電子株式會社(JEOL) 2020 年新推出的場發射掃描電鏡,它秉承 JEOL 熱場發射掃描電鏡 JSM-7900F 的大束流,高穩定性的傳統,同時將分辨率提高到新的極限,全新設計的超級混合型物鏡,高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成,而且標配 JEOL 新開發的 NEO Engine,使得任何人都可以操作該設備得到高質量的圖像,是一款非常適合材料分析研究的設備。
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德國Zeiss 場發射電子顯微鏡SIGMA 300
- 品牌:德國蔡司
- 型號: SIGMA 300
- 產地:德國
德國Zeiss 場發射電子顯微鏡SIGMA 300 ,ZLGemini鏡筒,超高的束流穩定性,超高的束流穩定性,zhuo越的低電壓性能,In Lens 探測器,磁性材料高分辨觀察,ding級X射線分析設計,便越操作系統設計,超大空間,多接口,升級靈活。
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ZEISS聚焦離子束掃描電鏡Crossbeam 350
- 品牌:德國蔡司
- 型號: Crossbeam 350,Crossbeam 550
- 產地:德國
德國ZEISS蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB/SEM,Crossbeam 350,Crossbeam 550,標準樣品倉有18個擴展接口,加大樣品倉有22個擴展接口。
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日本日立 熱場發射掃描電鏡SU7000
- 品牌:日立
- 型號: SU7000
- 產地:日本
此次推出的SU7000采用全新設計的探測器,使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。
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熒光電鏡一體機 CLEM
- 品牌:荷蘭Phenom-World
- 型號: Delphi iCLEM
- 產地:荷蘭
德飛采用光電關聯顯微技術(CLEM),熒光定位樣品中感興趣區域,電鏡接力高倍觀察,通過在熒光圖像中疊加電鏡圖像,在一張圖像里同時獲得樣品功能物質分布信息和高分辨結構信息。
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飛納 槍擊殘留物分析 GSR
- 品牌:荷蘭Phenom-World
- 型號: GSR
- 產地:荷蘭
Phenom GSR 飛納臺式掃描電鏡自動槍擊殘留物分析是全球SC在臺式掃描電鏡運行自動槍擊殘留物分析軟件。
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[公開招標]預算690萬元 石河子大學采購掃描電鏡能譜一體機
石河子大學公開招標掃描電鏡能譜一體機、高效液相色譜,zeta電位粒徑分子量測儀,在線質譜氣體分析系統、分子精餾裝置,硅基催化劑在線生成與評價裝置,項目編號:XJBTBJ[2024]822號、XJBTBJ[2024]830號
- 掃描電鏡/掃描電子顯微鏡
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